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저자정보
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2005년도 SOC 학술대회
발행연도
2005.5
수록면
277 - 282 (6page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2005

Detecting the Delay Faults of I/O Block using the Low-Speed Tester
Hyun Chul Kang ,  Joon Young Pa ,  k 외 4명 ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications 2005.07 학술대회자료
Detecting the Delay Faults of I/O Block using the Low- Speed Tester
Hyun Chul Kang ,  Joon Young Pa ,  k 외 4명 대한전자공학회 학술대회 2005.05 학술대회자료

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목차

Abstract
1. Introduction
2. Proposed Idea
3. Test Methods
4. Conclusions
References

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