An Improvement of Linear Regression with Elimination of Outliers Detected by Area-Descent

Huynh Trung Hieu; Yonggwan Won

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자료유형: 학술대회자료

저자정보: Huynh Trung Hieu Yonggwan Won

저널정보: 대한전자공학회 ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications ITC-CSCC : 2006 Proceedings volume 1

발행연도: 2006.7

수록면: 197 - 200 (4page)

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Huynh Trung Hieu

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상세 메타 데이터	발행기관 메타	발행기관 이명, 영문명, 창립연도, 홈페이지URL, 발행기관 소개
	간행물 메타	부제목, 간행물 유형, ISSN, ISBN, 최초발행연도, 폐간연도, 간행빈도, 발행주기, 등재사항, 이용수, 피인용수, 권호수, 논문수, 표지이미지
	논문 메타	작성 언어, 부제목, 대등제목, 목차, 키워드, 초록, 이미지, 참고문헌, 이용수, 피인용수, 논문활용도, DBpia통합주제분류, KDC분류, DDC분류, 한국연구재단분류, UCI, DOI
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