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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
崔義善 (연세대학교) 李哲熙 (연세대학교)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지-SP 電子工學會論文誌 第37卷 SP編 第6號
발행연도
2000.11
수록면
38 - 47 (10page)

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Bhattacharyya distance는 패턴 분류 문제에 있어서 클래스간 분리도 측정의 수단으로 사용되어 왔으며 특징 추출 시 유용한 정보를 제공한다. 본 논문에서는 최근 발표된 Bhattacharyya distance를 이용한 에러 예측 기법을 이용하여 예측된 분류 에러가 최소가 되는 특징 벡터를 추출하는 방법에 대하여 제안한다. 제안한 특징 추출 기법은 최적화 알고리즘인 전체탐색 및 순차탐색 방법의 적용 시 분류 에러를 직접 구하지 않고 Bhattacharyya distance를 이용하여 분류 에러를 예측하므로 고차원 데이터의 경우 고속의 특징 추출이 가능하며, 에러 예측 성질을 이용하여 패턴 분류 시 필요한 최소 특징 벡터의 수를 예측할 수 있는 장점이 있다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 연구 배경
Ⅲ. Bhattacharyya distance를 이용한 특징 추출
Ⅳ. 실험 결과
Ⅴ. 결론
참고문헌
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