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저자정보
안성용 (삼성전기) 김익섭 (삼성전기) 손수환 (삼성전기) 송소연 (삼성전기) 한진우 (삼성전기) 최강룡 (포항공과대학교)
저널정보
한국자기학회 한국자기학회지 한국자기학회지 제20권 제5호
발행연도
2010.10
수록면
182 - 186 (5page)

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Cobalt가 치환된 NiZnCu ferrite의 소결 및 자기적 성질에 미치는 영향에 대해 연구 하였다. 칩인덕터용 Ni<SUB>0.36-x</SUB>Co<SUB>x</SUB>Zn<SUB>0.44</SUB>Cu<SUB>0.22</SUB>Fe<SUB>1.98</SUB>O₄(0≤x≤0.04)를 고상반응법으로 제조하였다. 소결조제를 사용하지 않고 880~920℃에서 공기중 2시간 열처리 하였으며 초투자율, 품질계수 Q, 밀도, 수축율, 포화자화, 및 보자력을 측정하였다. Cobalt가 치환된 NiZnCu ferrite는 품질계수 Q를 증가시켰으며 칩인덕터용으로 사용 가능함을 알 수 있었다. 품질계수 Q는 치환량이 x=0.01까지 증가한 후 x=0.01 이후로 급격히 감소하였다. Cobalt의 치환량이 증가함에 따라 초투자율 및 밀도값은 감소하였다. 900℃에서 소성된 Ni<SUB>0.35</SUB>Co<SUB>0.01</SUB>Zn<SUB>0.44</SUB>Cu<SUB>0.22</SUB>Fe<SUB>1.98</SUB>O₄ 토로이달 core 샘플의 경우 1 ㎒에서 측정 시 초투자율값은 130이었고 품질계수 Q값은 230으로 나타났다.
#칩인덕터 #품질계수 Q #NiZnCu ferrite #multi-layered chip inductor #quality factor

목차

Ⅰ. 서론
Ⅱ. 실험방법
Ⅲ. 결과 및 고찰
Ⅳ. 결론
참고문헌

참고문헌 (8)

참고문헌 신청
1. [학술지(정기간행물)] - J. Murbe / 2005 / / J. Electroceramics 15 : 215 ~ google schola 2. [학술지(정기간행물)] - H. Su / 2006 / / Mater. Sci. Eng. B 129 : 172 ~ google schola 4. [학술지(정기간행물)] - H. Su / 2005 / / Mater. Sci. Eng. B 117 : 231 ~ google schola 5. [학술지(정기간행물)] - 안성용 / 2008 / 칩인덕터용 저온소성 Nano-glass 연구 / 한국자기학회지 18 (1) : 43 ~ 47 dbpia 6. [학술지(정기간행물)] - M. Pal / 1996 / / J. Magn. Magn. Mater 152 : 370 ~ google schola

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