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저자정보
Ho Anh Duc Nguyen (건국대학교) Jin Hyun Ahn (한국표준과학연구원) Kee Hyun Shin (건국대학교)
저널정보
대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 2010년도 생산 및 설계공학부문 춘계학술대회
발행연도
2010.4
수록면
352 - 353 (2page)

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Thin film brittle electronic film manufacturing is very sensitive with internal stress on pattern in R2R process. The process induced internal stresses, such as operating tension and bending stress, are the main factors which reduce the stability of thin film pattern. In practice, there exists the uncertainty of the R2R process parameter e.g., 2% tension variation, un-uniform web/pattern thickness, varying Young modulus of the substrate and pattern. Consequently, the deterministic optimization method canno ... 전체 초록 보기
#R2R process #E-printing #Reliability #Crack #Brittle thin film pattern

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