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저자정보
윤창노 (경희대학교) 조영민 (경희대학교) 김진상 (경희대학교) 조원경 (경희대학교)
저널정보
한국정보기술학회 Proceedings of KIIT Conference 한국정보기술학회 2010년도 IT기반 콘텐츠 융합기술 워크숍 및 워크숍 및 하계종합학술대회 논문집
발행연도
2010.5
수록면
608 - 611 (4page)

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향상된 나노 수준의 회로는 공정변이, 전압변이, 온도변이에 따른 오류와 single event upset 변이에 의한 오류에 영향을 받는다. 최신의 변이를 고려한 플립플롭들은 단지 에러를 공간과 전력의 부하를 사용하여 검출할 수 있는 기능만을 제공한다. 우리는 펄스 기반의 변이를 고려한 디자인의 안정성 문제를 효율적으로 해결할 수 있는 플립플롭을 제안하였다. 실험결과에서는 가장 최근에 발표된 펄스 기반의 플립플롭에 비교하여 single event upset에 영향을 받지 않는 제안된 변이를 고려한 플립플롭을 확인할 수 있다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. Soft-error에 강인한 펄스 기반 플립플롭 설계
Ⅲ. 제안하는 플립플롭과 기존의 플립플롭에 대한 실험 결과
Ⅳ. 결론
감사의 글
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