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This paper presents a method to segment semiconductor wafer ID on poor quality images. The method is based on multiple templates and normalized gray-level correlation (NGC) method. If the lighting condition is not so good and hence, we can not control the image quality, target image to be inspected presents poor quality ill and it is not easy to identify and then recognize the ill characters. Conventional several method to segment the interesting ill regions fails on the bad quality images. In this paper, we propose a multiple template method, which uses combinational relation of multiple templates from model templates to match several characters of the inspection images. To find out the optimal solution of multiple template model in ill regions, we introduce newly-developed snake algorithm. Experimental results using images from real FA environment are presented.
목차
Abstract
1. 서론
2. 패턴 정합 알고리즘
3. 다중 템플릿에 의한 영상 분할 알고리즘
4. 실험 결과 및 고찰
5. 결론
참고문헌
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1. [학술지(정기간행물)] - / 2002 / Development of General Forms Reading Techniques for Optical Character Recognition Systems 43 (1) : 25 ~ 28
2. [학술지(정기간행물)] - / 2002 / Research and Development for OCR Technologies 43 (1) : 29 ~ 32
3. [학술지(정기간행물)] - / 1995 / 一般化 ハフ換による 半導體 ウエハ 識別番認識 61 (10) : 1470 ~ 1474
4. [학술지(정기간행물)] - / 1999 / 組合せ Hough 換を 用いた 半導體べアチツプ ID 認識 65 (1) : 73 ~ 77
5. [학술지(정기간행물)] - / DEC,2006 / New Identification System for Individual Wafer Management 56p (4)
2. [학술지(정기간행물)] - / 2002 / Research and Development for OCR Technologies 43 (1) : 29 ~ 32
3. [학술지(정기간행물)] - / 1995 / 一般化 ハフ換による 半導體 ウエハ 識別番認識 61 (10) : 1470 ~ 1474
4. [학술지(정기간행물)] - / 1999 / 組合せ Hough 換を 用いた 半導體べアチツプ ID 認識 65 (1) : 73 ~ 77
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