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논문 기본 정보

자료유형
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저널정보
한국항공우주학회 한국항공우주학회지 韓國航空宇宙學會誌 第35卷 第3號
발행연도
2007.3
수록면
268 - 274 (7page)

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일반적으로 로켓과 위성 전자 회로 설계 단계에서 전자 소자의 신뢰도를 높이기 위해 소자의 작동온도를 낮추는 방법이 많이 사용된다. 본 논문에서는 소자 온도뿐 아니라 활성화에너지가 전자 장비 신뢰도에 미치는 영향에 대해 상세히 분석하였는데 실제 소자의 온도보다는 소자의 활성화에너지가 신뢰도에 훨씬 많은 영향을 끼치는 것으로 분석되었으며 이에 대한 분석결과를 정량적으로 기술하였다. 또한 PCB에 소자 배치 시 신뢰도를 높이기 위한 소자 배치 방법과 이에 따른 신뢰도 향상 결과에 대해서도 기술하였다.
#Reliability(신뢰도) #Derating Model(경감모델) #Junction Temperature(접합온도) #Activation Energy(활성화에너지) #Electronics Units(전자 장비)

목차

ABSTRACT
초록
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 신뢰도 인자의 정량적 영향 분석
Ⅲ. 신뢰도 향상을 위한 소자배치
Ⅳ. 결론
참고문헌

참고문헌 (5)

참고문헌 신청
1. [기타자료] - Reynell, M. / 1990 / Avionics Integrity Program / USAF google schola 2. [학술지(정기간행물)] - 김영석 / 2002 / 통신방송위성 중계기의 신뢰도 분석 및 최적 설계 / 한국항공우주학회지 30 (8) : 94 ~ 102 dbpia 3. [단행본] - DoD / 1991 / MIL-HDBK-217F Reliability Prediction of Electronic Equipment / DoD USA google schola 4. [인터넷자원] - / / http://www.coolingzone.com/Guest/News/NL_May_2003/Tony/Tony_May2003.html google schola 5. [단행본] - Milton Ohring / 1998 / Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices / Academic Press : 215 ~ google schola

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