메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
Generally, the yield rate of semiconductors is the major factor that affects directly the price of semiconductors. For a high yield rate of semiconductors, the air inside clean room is needed to be purified and high efficient filters are used for this. The filter are made of super-fine fiber and certain pinholes can be easily produced on the filter's surface by inadvertent manufacturing. As these pinholes are not easily detected with the bare sight, these pinholes exert a negative impact to filtration performance of the filter. In this research, not only the automatic test equipment for detecting pinholes is proposed, but also inverse modeling scheme based on artificial neural network is applied for tuning of its important parameters.

목차

Abstract
1. INTRODUCTION
2. AUTOMATIC TEST EQUIPMENT FOR DETECTING PINHOLES
3. NEURAL INVERSE MODELING SCHEME
4. APPLICATION OF NEURAL INVERSE MODELING SCHEME TO FILTER TEST EQUIPMENT
5. CONCLUSION
References

참고문헌 (5)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-028-014869471