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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2020.8
- 수록면
- 339 - 343 (5page)
- DOI
- 10.7735/ksmte.2020.29.4.339
이용수
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In printed electronics technology, the pinholes in the printed pattern voids can affect the quality or performance of printed electronic devices. Therefore, it is important to measure and control the pinholes in printed patterns during the manufacturing process. The pinhole has a three-dimensional (3D) shape and should be measured using a 3D microscope for accurate measurement. However, such equipment is typically too expensive to be acquired by a small-sized company. This paper proposes a measurement method for pinholes in printed patterns, involving pattern images obtained using a relatively inexpensive 2D microscope. The proposed method is based on a pinhole threshold index, which defines the boundary between the pinhole and pattern. The actual measurement results are shown to have varying threshold indices. This research contributes to the advancement of the printed electronics industry.
목차
ABSTRACT
1. 서론
2. 인쇄전자 국제표준화 동향
3. 2D 이미지를 이용한 핀홀 측정
4. 핀홀 측정 방법 및 단계
5. 핀홀 경계값 지수의 효과
6. 결론
References
참고문헌 (9)
참고문헌 신청
김철 / 2019 / Reduction of linearly varying term of register errors using a dancer system in roll-to-roll printing equipment for printed electronics / International Journal of Precision Engineering and Manufacturing 20(9):1485~1493
Kim, C. / 2018 / Universal Testing Apparatus Implementing Various Repetitive Mechanical Deformations to Evaluate the Reliability of Flexible Electronic Devices / Micromachines 9(10):492
José F. Salmerón / 2014 / Properties and Printability of Inkjet and Screen-Printed Silver Patterns for RFID Antennas / Journal of Electronic Materials 43(2):604~617
Steve Park / 2013 / A review of fabrication and applications of carbon nanotube film-based flexible electronics / Nanoscale 5(5):1727
전성웅 / 2014 / Measurement of Geometric Properties of Printed Patterns and Evaluation of their Printability / 한국정밀공학회지 31(11):981~986
Kim, C. / 2018 / Universal Testing Apparatus Implementing Various Repetitive Mechanical Deformations to Evaluate the Reliability of Flexible Electronic Devices / Micromachines 9(10):492
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Steve Park / 2013 / A review of fabrication and applications of carbon nanotube film-based flexible electronics / Nanoscale 5(5):1727
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