메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
This study explains that either plating type or grain size affect to the growth of the whisker in the lead frame. There are two factors that affect the growth of the whisker. One is the formation of the intermetallic compound between base metal and plating layer, and the other is CTE mismatch by temperature variation. To confirm those mechanisms, we've done two accelerated test which are high temperature/humidity test and thermal cycling test. By the test data, we could confirm that large grain size of the matte tin accelerates the whisker growth.

목차

Abstract
1. 서론
2. Whisker 발생 메커니즘
3. Whisker 성장 가속 시험
4. 결론
참고문헌

참고문헌 (0)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-550-016064755