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대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 2007도 추계학술대회 강연 및 논문 초록집
발행연도
2007.10
수록면
7 - 12 (6page)

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This study explains an accelerated life test for rectifier diode which is commonly used in many electric circuits. The dominant failure mode of the rectifier diodes is a leakage current that is caused by an ionic contamination which is one of the failure mechanisms. An ionic contamination causes minor inversion layer in p-n junction. In accelerated life test(ALT), we checked up the amount of parametric shift in leakage current by using curve tracer. In this test, stress factors were temperature and voltage. Finally, we estimated acceleration factors and B10 life with ALTA data.
#Accelerated Life Test(가속열화시험) #Ionic Contamination(이온오염) #HTRB(고온 역 바이어스 실험) #leakage current(누설전류)

목차

Abstract
1. 서론
2. 정류다이오드의 고장분석
3. 정류다이오드의 가속수명시험
4. 결론
참고문헌

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