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대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 2006년도 추계학술대회 강연 및 논문 초록집
발행연도
2006.11
수록면
19 - 24 (6page)

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This paper presents predicting mean life of Regulator IC which is usually mounted in SMPS by ALT(Accelerated Life Test). Failure mode/mechanism of regulator IC can be classified into two groups. One is open failure due to wire crack and package or attachment delamination. The other is output voltage drop which is caused by internal resistance increase. In this study, main failure mechanism was voltage drop due to the package delamination in accordance with different test conditions of acceleration stresses(temperature and current).
#Regulator IC(레귤레이터 IC) #Heat Dissipation(발열량) #Failure Analysis(고장분석) #Crack(크랙) #Delamination(박리)

목차

Abstract
1. 서론
2. 레귤레이터 IC의 고장분석
3. 가속수명시험
4. 결론
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