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대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 2006년도 추계학술대회 강연 및 논문 초록집
발행연도
2006.11
수록면
1 - 6 (6page)

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This study explains an accelerated degradation test for aluminum electrolytic capacitor which is common component mounted in PCB for circuit stabilization. The dominant failure mode of the aluminum electrolytic capacitors is decrease in capacitance that was caused by dry up mechanism of the electrolyte. In Accelerated Degradation Test(ADT), we checked up the amount of dry up of electrolyte by means of measuring the weigh of electrolytic and capacitance according to different test conditions of acceleration stresses(temperature and voltage). We have estimated the relation of life-stress and acceleration factor with ADT data. Additionally, we have found that temperature affects the capacitance more than voltage.
#Capacitance(정전용량) #Dry Up(드라이 업) #Loss Factor(손실률) #Weibull Distribution(와이블 분포) #Weight of Electrolytic(전해질 무게)

목차

Abstract
1. 서론
2. Al. 전해 커패시터의 고장분석
3. 가속열화시험
4. 결론
후기
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