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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
조현선 (아주대학교) 박상철 (아주대학교) 장중순 (아주대학교)
저널정보
한국신뢰성학회 신뢰성응용연구 신뢰성응용연구 제19권 제2호
발행연도
2019.6
수록면
149 - 159 (11page)
DOI
10.33162/JAR.2019.06.19.2.149

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2020

전해 커패시터 부풀어 오름 현상 기반 고장 예지
조현선 산업공학과 2020.01 학위논문

2019

전해 커패시터 부풀어 오름 현상 기반 고장 예지
조현선 ,  박상철 ,  장중순 신뢰성응용연구 2019.06 학술저널

초록· 키워드

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Purpose: To ensure normal functioning of an electronic circuit, it is very important to monitor capacitor degradation. Although we canmonitor capacitor degradation by measuring electric characteristics, the capacitors to be measured must be disassembled from the circuit. In this study, a swelling-based failure prediction methodology for electrolytic capacitors that does not require disassembly of capacitors from the circuit is proposed.
Methods: It is possible to measure the swelling length of a capacitor by using a computer-visionbased technique. In the experiment conducted in this study, deterioration was induced in 30 capacitors (Samwha, 50 V 1500 ìF) by applying reverse voltage. Through regression analysis, we can predict the capacitance of a capacitor based on its swelling length.
Results: As capacitor deterioration progressed, capacitor swelling length, ESR value, and loss value increased, and capacitance decreased.
Conclusion: It is possible to monitor capacitor degradation by measuring the swelling length of a capacitor because the results of the regression analysis show that the swelling length is strongly related to the electrical performance characteristics of a capacitor.
#Electrolytic Capacitor #Swelling #Failure Prediction #Regression #Computer Vision

목차

1. 서론
2. 본론
3. 결론
References

참고문헌 (15)

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Platt, C. / 2017 / Encyclopedia of electronic components / Hanbit Media 1:218 google schola Platt, C. / 2017 / Encyclopedia of electronic components / Hanbit Media 1:243 google schola Hess, A. / 2005 / Challenges, issues andlessons learned chasing the ‘Big P’: Real predictive prognostics, Part 1 / IEEE Aerospace Conference :3610~3619 google schola 최주호 / 2011 / 예지기술의 연구동향 및 모델기반 예지기술 비교연구 / 제어.로봇.시스템학회 논문지 17(11):1095~1100 dbpia EMERSON / 2008 / Capacitors age and capacitors jave and end of life / Emerson Network Power :5 google schola

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