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대한전자공학회 전자공학회논문지-TC 電子工學會論文誌 TC編 第44卷 第4號
발행연도
2007.4
수록면
28 - 39 (12page)

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본 논문에서는 저잡음 증폭기 (LNA)를 위한 새로운 구조의 프로그램 가능한 고주파 검사용 설계회로 (RF DFT)를 제안한다. 개발된 RF DFT 회로는 DC 측정만을 이용하여 LNA의 RF 변수를 측정할 수 있으며, 최근의 RFIC 소자에 매우 유용하다. DFT 회로는 프로그램 가능한 커패시터 뱅크 (programmable capacitor banks)와 RF 피크 검출기를 가진 test amplifier를 포함하며, 측정된 출력 DC 전압을 이용하여 입력 임피던스와 전압이득과 같은 LNA 사양을 계산할 수 있다. 이러한 온 칩 DFT 회로는 GSM, Bluetooth 및 IEEE802g 표준에 이용할 수 있는 3가지 주파수 대역, 즉 1.8㎓, 2.4㎓, 5.25㎓용 LNA에서 사용할 수 있도록 자체적으로 프로그램 할 수 있다. 이 회로는 간단하면서도 저렴하다

목차

요약
Abstract
Ⅰ. Introduction
Ⅱ. Approach
Ⅲ. Fault Models
Ⅳ. Analysis
Ⅴ. Results
Ⅵ. Conclusions
References
APPENDIX A
저자소개

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