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논문 기본 정보

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한국조명·전기설비학회 조명·전기설비학회논문지 조명·전기설비학회논문지 제18권 제6호
발행연도
2004.11
수록면
45 - 54 (10page)

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일반적으로 반도체 소자의 집적도가 증가함에 따라 기능적 오류 검사 시간이 급격하게 증가하며, 이러한 문제를 해결하기 위해 제조공정에서 패턴 발생기의 사용은 필수적이다. 본 논문에서는 반도체 소자의 기능적 오류를 검사하기 위한 패턴 발생기의 PLD(Programmable Logic Device) 회로를 설계하였다. 이러한 모든 사항은 시뮬레이션을 통하여 회로의 동작과 기능을 검증하였으며, 만족할만한 결과를 얻었다.

목차

요약
Abstract
1. 서론
2. 패턴 생성기 회로설계
3. 시뮬레이션 결과 및 고찰
4. 결론
References
◇ 저자소개 ◇

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-565-015495460