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한국조명·전기설비학회 조명·전기설비학회논문지 조명·전기설비학회논문지 제18권 제5호
발행연도
2004.9
수록면
48 - 53 (6page)

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광원의 분광복사조도를 250∼1600[nm] 파장 영역에서 정확하게 측정하기 위한 분광복사조도 측정 장치를 개발하였다. 분광복사조도 측정 장치는 광원 장치, 광학계, 분광장치, 광검출장치, 신호 처리 장치 등으로 이루어져 있다. 광검출 장치는 PMT, Si, InGaAs 및 IR enhanced InGaAs 광검출기를 이용함으로써 자외선, 가시광선, 적외선을 포함하는 넓은 파장 범위에서 광원의 스펙트럼을 측정할 수 있다.
개발된 측정 장치를 이용하여 1[㎾] quartz-halogen 텅스텐 전구의 분광복사조도를 측정하여 비교하였는데, 측정결과와 NIST에서 측정된 결과와는 차이는 450∼700[nm] 파장 영역에서 3[%] 이하이며, 700∼1600[nm] 파장영역에서는 3.5[%] 이하이며, 250∼400[nm] 파장영역에서는 5[%] 이하로 측정되었다.

목차

요약
Abstract
1. 서론
2. 분광복사조도 측정 장치
3. 측정 실험 및 토의
4. 결론
References
◇ 저자소개 ◇

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