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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
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저널정보
한국콘텐츠학회 한국콘텐츠학회논문지 한국콘텐츠학회논문지 제2권 제4호
발행연도
2002.12
수록면
46 - 50 (5page)

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본 논문은 지문 영상의 전처리중 이진화 수행과정에서 지문 영상의 국부적 밝기 차이에 따른 가장 큰 애로점인 임계치(threshold value) 설정을 대상 지문 영역의 밝기 등에 스스로 적응할 수 있도록 Slit Sum 방법을 응용한 적을 이진화를 수행하였다. 기존의 방법과 비교하여 본 연구에서 제시한 개선된 전처리 방법은 보다 높은 인식 정확도를 제공하며, 이에 따라 실험 결과에서 보는 바와 같이, 지문 인식을 위한 특징점 추출 알고리즘에 적용될 수 있다.

목차

요약

Abstract

Ⅰ. 서론

Ⅱ. 방향성 추출 및 배경 분리

Ⅲ. 적응 이진화 방법

Ⅳ. 세선화 및 특징점 추출

Ⅴ. 정합 방법

Ⅵ. 실험 결과

참고문헌

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