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논문 기본 정보

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한국분석과학회 분석과학 분석과학 제9권 제1호
발행연도
1996.3
수록면
20 - 25 (6page)

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암석 및 토양 등의 지질시료에 미량으로 존재하는 우라늄과 토륨을 파장분산형 X-선 형광분석법을 사용하여 정량하였다. X-선관의 target 물질로 사용되는 Rh의 산란선을 내부 표준물질로 사용하였다. 토륨의 경우는 50초, 그리고 우라늄의 경우는 400초 동안 측정하였을 때, 우라늄과 토륨의 X-선 형광분석결과는 중성자방사화분석 및 유도결합플라즈마 원자방출분광분석의 결과와 큰 차이를 보이지 않았으며 10% 이내의 정밀도와 15% 이내의 정확도를 보여 주었다.

목차

요 약

Abstract

1. 서 론

2. 실 험

3. 결과 및 고찰

4. 결론 및 토의사항

참고문헌

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