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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 1984년도 가을 학술발표논문집 제11권 제2호
발행연도
1984.10
수록면
422 - 427 (6page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

1984

Built - In Test를 爲한 LSI / VLSI 回路分割
김동욱 ,  임인칠 한국정보과학회 학술발표논문집 1984.10 학술대회자료
Built-In Test 방식을 이용한 Programmable Logic Array의 Testable Design ( Programmable Logic Array Testable Design Using Built-In Test Technique )
김동욱 ,  한석붕 ,  임인칠 대한전자공학회 학술대회 1984.01 학술대회자료

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本 論文에서는 VLSI 回路에 Built-In Test 方式을 適用할 경우 一括 test가 可能하도록 回路分割하는 方法을 提案한다. 이 方法은 分割된 각 module을 한개씩 test할 필요가 없고, pipeline 방식으로 一括 test를 수행하므로 test시간과 test를 爲한 附加回路의 量을 상당히 줄일 수 있다.

목차

요약

Ⅰ. 序論

Ⅱ. 一括 test 方法

Ⅲ. 回路分割 方法

Ⅳ. 結論

[參考文獻]

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