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논리형 집적회로의 내부 결함을 검증하기 위해서는 설정된 초기값을 전파하여 최종 출력단에 나타난 값과 결함이 없을 경우의 출력 값을 비교함으로써 검증할 수 있다. 입력의 개수가 N일 경우의 모든 내부신호선의 결함을 검출하기 위해서는 최대 2^N개의 초기 입력값들로 구성된 검증 패턴이 필요하다. 본 논문에서는 다출력회로에서 2^N개의 입력 패턴 중, 모든 신호선의 결합을 검출 할 수 있는 최소의 입력패턴 집합을 빠르고 정확하게 생성하게 위한 방법으로 다출력 회로를 출력과 연관된 세부회로로 분리하여 각각 검증함으로써 탐색공간을 줄이는 방법을 제안한다. 이는 입력 패턴의 길이가 상대적으로 줄어들 뿐 아니라 관련이 없는 신호선을 탐색하지 않으므로 검증 패턴 생성 시간이 감소함으로써 기존의 패턴 생성 알고리즘보다 효과적인 검증패턴의 생성이 가능하다.

목차

요약

1. 서론

2. 결함검증 패턴생성 알고리즘

3. 결함 검증 패턴 생성의 가속화

4. 실험 및 결과

5. 결론 및 향후 연구방향

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-569-017898478