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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 1978.8
- 수록면
- 42 - 49 (8page)
이용수
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1981
1978
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This paper describes test-pattern generation and it's sequence for fan out-free Combinational logic network with multiple faults.
The method for detecting multiple faults, in systematic way, is established by using characteristic graphs.
This method is applied even in the case of fan out-reconvergent combinational logic networks.
In this case, the network is decomposed into a set of fan out-free subnetworks characteristic graphs, and minimal test patterns are generated seperately.
The each test set is combined and the test pattern for fan out-reconvergent networks are derived. According to corresponding characteristic graph, additional test patterns to detect multiple faults are simply derived.
The method for detecting multiple faults, in systematic way, is established by using characteristic graphs.
This method is applied even in the case of fan out-reconvergent combinational logic networks.
In this case, the network is decomposed into a set of fan out-free subnetworks characteristic graphs, and minimal test patterns are generated seperately.
The each test set is combined and the test pattern for fan out-reconvergent networks are derived. According to corresponding characteristic graph, additional test patterns to detect multiple faults are simply derived.
목차
Abstract
1. 序論
2. 基本정의 및 Test順序
3. 分岐가 存在하는 경우의 Test Pattern算出
4. 結論
참고문헌
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