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논문 기본 정보

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저널정보
Korean Institute of Information Scientists and Engineers Journal of Electrical Engineering and Information Science Journal of Electrical Engineering and Information Science Vol.3 No.3
발행연도
1998.6
수록면
348 - 354 (7page)

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The measured equation of invariance (MEI) method was introduced as a way to determine the electromagnetic fields scattered from discrete objects. Unlike more traditional numerical methods, MEI method gives local equations and sparse matrices. Therefore, the savings in storage and computing time by the MEI method over conventional methods are very substantial. In this work, Haar wavelets are applied to the measured equation of invariance (MEI) to solve two-dimensional scattering problem. We refer to "MEI method with wavelets" as "Wavelet MEI method." The proposed method leads to a significant saving in the CPU time compared to the MEI method that does not use wavelets as metrons. The results presented in this work promise that the Wavelet MEI method can give an accurate result quickly. We believe it is the first time that wavelets have been applied in conjunction with the MEI method to solve this scattering problem.

목차

Abstract

Ⅰ. Introduction

Ⅱ. Review of the Mei Method

Ⅲ. Wavelet Mei Method

Ⅳ. Numerical Result and Discussion

Ⅴ. Conclusion

References

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