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대한전자공학회 전자공학회논문지-SP 전자공학회논문지 SP편 제41권 제6호
발행연도
2004.11
수록면
109 - 120 (12page)

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본 논문에서는 다층스케일 에지로부터 특이점 검출을 이용한 블록화 현상 제거 방법을 제안하였다 블록 부호화된 영상에서 블록화 현상 및 에지와 같은 특이점들은 다층스케일 웨이블릿 변환 영역에서 국부 계수 최대치로 검출된다. 제안한 방법에서 는 국부 계수 최대치의 Lipschitz 정착 상수를 이용하여 블록화 현상 및 에지의 특이점들을 구분하고, 웨이블릿 변환 영역에서 블록화 현상에 의한 특이점들을 영역에 따라 스케일별로 제거한다. 실험 결과로부터 제안한 방법이 기존의 방법에 비하여 객관적 화질 및 주관적 화질 측면에서 보다 우수함을 확인하였다.

목차

요약

Abstract

Ⅰ. 서론

Ⅱ. 웨이블릿 변환 영역에서의 국부 계수 최대치 및 Lipschitz 정칙 상수

Ⅲ. 제안한 블록화 현상 제거 방법

Ⅳ. 실험 결과 및 고찰

Ⅴ. 결론

참고문헌

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참고문헌 (19)

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