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핫 캐리어에 의한 GaAs HBT 의 새로운 열화 메카니즘 ( New Degradation Mechanism of GaAs HBT induced by Hot Carriers )
전자공학회논문지-D
1997 .11
GaAs HBT를 이용한 논리회로의 설계 ( The Design of Logic Circuits Using GaAs HBT )
한국통신학회 전문대학 논문지
1991 .01
에미터와 베이스의 기하구조가 AlGaAs/GaAs HBT 의 전기적 특성에 미치는 영향 ( Emitter - Base Geometry Dependence of Electrical Performance of A l GaAs/GaAs HBT )
전자공학회논문지-A
1995 .02
AIGaAs / GaAs HBT의 전력 특성에 관한 연구 ( A Study of The Power Characteristics of AlGaAs / GaAs HBTs )
대한전자공학회 학술대회
1995 .11
역방향 스트레스에 의한 AlGaAs / GaAs HBT의 열화에 관한 연구 ( A research on the degradation of AlGaAs / GaAs HBT due to the reverse stress )
대한전자공학회 학술대회
1996 .01
GaAs HBT를 이용한 X-band 발진기 설계 및 제작
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
GaAs HBT를 이용한 X-band 발진기 설계 및 제작 ( Design and Fabrication of X-Band Oscillator Using GaAs HBTs )
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
표면상태에 의한 AlGaAs / GaAs HBT 의 전류이득 열화
대한전자공학회 학술대회
1997 .01
AlGasAs / GaAs HBT의 온도 특성 ( Temperature Characteristics of AlGaAs / GaAs HBT )
대한전자공학회 학술대회
1995 .01
AlGaAs/GaAs HBT의 전력 특성에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
1995 .12
AlGaAs / GaAs HBT 의 제작과 특성연구 ( Fabrication and Characterization of AlGaAs / GaAs HBT )
전자공학회논문지-A
1994 .09
탄소 도핑된 베이스를 갖는 GaAs / AlGaAs HBT의 제작 및 특성 ( Fabrication and Characteristics of Carbon-Doped Base GaAs / AlGaAs HBT )
대한전자공학회 학술대회
1991 .11
스트레스에 의한 AlGaAs / GaAs HBT의 콜렉터 누설전류의 열화 ( Stress induced degradation of the collector leakage current of AlGaAs / GaAs HBT )
대한전자공학회 학술대회
1996 .01
AlGaAs / GaAs 전력용 HBT의 최적화 설계 ( Optimized Design of AlGaAs / GaAs Power HBT )
대한전자공학회 학술대회
1991 .05
Temperature Effects on the Characteristics of AlGaAs / GaAs HBT
대한전자공학회 학술대회
1996 .01
Degradation of AlGaAs / GaAs HBT due to the Constant current Stress
대한전자공학회 학술대회
1997 .01
X-Band용 AlGaAs/GaAs 전력 HBTs ( X-Band AlGaAs/GaAs Power HBTs )
전자공학회논문지-A
1996 .08
외부 베이스표면을 에미터 ledge로 포장한 InGaP / GaAs HBT의 신뢰도 향상
한국컴퓨터정보학회논문지
2000 .12
역방향 정전류 스트레스에 의한 AlGaAs/GaAs HBT의 에미터-베이스 접합 오프셋 전압의 열화
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
역방향 정전류 스트레스에 의한 AlGaAs / GaAs HBT의 에미터-베이스 접합 오프셋 전압의 열화 ( Degradation of Emitter-base Junction Off-set Voltage of AlGaAs / GaAs HBT Due To The Reverse Constant-current Stress )
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
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