DEEP SUBMICRON CMOS TECHNOLOGY AND DESIGN CHALLENGES

Bijan Dava ,  i

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

Deep Submicron급 CMOS 디바이스에서 Triple Well 형성과 래치업 면역 향상에 관한 연구 ( A Study on Improvement Latch-up immunity and Triple Well formation in Deep Submicron CMOS devices )

홍성표 ,  전현성 ,  강효영 외 2명

전자공학회논문지-D

1998 .09

Deep Submicron PMOSFET의 Scaling 방법 ( Scaling Methodology of Deep Submicron P-MOSFET )

장성준 ,  김용택 ,  유종근 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .11

Deep submicron PMOSFET의 Scaling 방법

장성준 ,  김용택 ,  유종근 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

ASIC Test

김진구

전자공학회지

1992 .06

서브마이크론 ASIC 환경에서의 최대 팬아웃 수 계산 방법 ( A Maximum Fanout Number Calculation Method in Submicron ASIC Environment )

고기태 ,  김석윤

한국통신학회논문지

1998 .11

CMOS 게이트에 의해서 구동 되는 배선 회로 압축 기술 ( A Compression Technique for Interconnect Circuits Driven by a CMOS Gate )

조경순 ,  이선영

전자공학회논문지-SD

2000 .01

Reliability and Power Estimation of Deep Submicron VLSI Circuits

Ib ,  ahim Haji

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

ASIC 설계 (2)

박주성

대한전자공학회 단기강좌

1997 .01

배선 회로 해석을 위한 CMOS 게이트의 구동 특성 모델 ( CMOS Gate Driver Model For Interconnect Circuit Analysis )

조경순 ,  변영기

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

배선 회로 해석을 위한 CMOS 게이트의 구동 특성 모델

조경순 ,  변영기

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

ASIC 설계를 위한 스케쥴링 알고리듬 ( A Scheduling Algorithm for ASIC ASIC design )

김기현 ,  정정화

전자공학회논문지-A

1995 .07

Submicron ASIC Delay Model Using a 2-D Delay Table with the Wire Parasitics

Eui Young Chung

KITE JOURNAL OF ELECTRONICS ENGINEERING

1993 .01

CDMA IF ASIC용 3V CMOS ADC ( A 3V CMOS ADC for CDMA IF ASIC )

오창준 ,  김욱 ,  권종기 외 3명

대한전자공학회 워크샵

1996 .01

ASIC 설계기술

이철동

전자공학회지

1995 .10

ASIC 설계 기술

김인경 ,  서인환

전자공학회지

1992 .06

CMOS 게이트에 의해서 구동되는 배선 회로의 타이밍 특성 분석 ( Analysis of Timing Characteristics of Interconnect Circuits Driven by a CMOS Gate )

조경순 ,  변영기

전자공학회논문지-C

1998 .04

ASIC 설계 교육

이문기

전자공학회지

1992 .06

ASIC2a-dependent increase of ASIC3 surface expression enhances the sustained component of the currents

권해진 ,  조진화 ,  장일성 외 1명

BMB Reports

2016 .01

SUBMICRON DEVICE RELIABILITY RESEARCH

Chenming Hu

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01