투과전자현미경을 이용한 $n^+$/p 접합에서 불순물의 이차원적 분포에 관한 연구

Pa ,  k ,  Chel-Jong 외 2명

한국재료학회 학술발표대회

1999 .01

6H-SiC P^(+)n 접합의 항복 전압을 위한 해석적 모형 ( Analytical Model of Breakdown Voltages for 6H-SiC p^(+)n Junction )

정용성

전자공학회논문지-SD

2001 .06

커패시턴스 측정을 통한 부정형 접합을 갖는 pn 접합의 유효 접합 면적 및 반송자 수명의 추출

조성재 ,  김상완 ,  손영환 외 4명

대한전자공학회 학술대회

2009 .07

커패시턴스 측정을 통한 부정형 접합을 갖는 pn 접합의 유효 접합 면적 및 반송자 수명의 추출

조성재 ,  김상완 ,  손영환 외 4명

대한전자공학회 학술대회

2009 .07

PC1D를 이용한 junction depth에 따른 결정질 실리콘 태양전지의 특성 분석

임정규 ,  이준신

한국신·재생에너지학회 학술대회 초록집

2011 .11

동시 접합 공정에 의한 자기정렬 코발트 실리사이드 및 얇은 접합 형성에 관한 연구 ( A Study on the Self-Aligned Cobalt Silicidation and Formation of a Shallow Junction by Concurrent Junction Process )

이석운 ,  민경익 ,  주승기

전자공학회논문지-A

1992 .02

전력용 반도체 소자의 설계 제작에 있어서 Fixed oxide charge가 p+/n 접합의 항복전압에 미치는 영향

이철환 ,  성만영 ,  최연익 외 2명

대한전기학회 학술대회 논문집

1988 .11

자기터널절합에서 자기 및 자기저항의 접합크기 의존성

상카라나라얀 ,  호영강 ,  김철기 외 2명

한국재료학회지

2003 .01

〈 100 〉〈 110 〉 및 〈 111 〉 방향의 GaAs 평면형 p + n 접합과 원통형 p + n 접합의 항복전압에 대한 해석적 표현 ( Analytical Expressions for Breakdown Voltage of GaAs Parallel-Plane p + n Junction and Cylindrical p + n Junction in 〈 100 〉〈 110 〉 and 〈 111 〉 Orientations )

정용성

대한전자공학회 세미나

1996 .01

As 선비정질화를 이용한 P⁺-N 접합의 특성 고찰

한명석 ,  김생환 ,  이창진 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1991 .05

p-n 접합에 있어서의 비등방성 응력효과 ( Anisotropic Stress Effects in p-n Junctions )

손병기 ,  이건일 ,  김수중 외 1명

전자공학회지

1974 .06

붕소 이온주입에 의한 p⁺n 접합 다이오드에 관한 연구

김동수 ,  정원채

대한전자공학회 학술대회

2000 .11

단일 패키지의 특성 분석을 통한 고출력 발광 다이오드 모듈의 접합 온도 측정

이세일 ,  김우영 ,  정영기 외 2명

전기전자재료학회논문지

2010 .01

Y-Junction을 이용한 H-평면 8-Way 구형 도파관 전력 분배기

이상흔 ,  윤지환 ,  윤영중 외 3명

한국전자파학회논문지

2012 .02

BPSG 공정조건을 고려한 P⁺-N 박막 접합 형성에 관한 연구

이우철 ,  한명석 ,  홍신남

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

Ceramic 및 stainless 강 접합 특성에 대한 접합 변수의 영향

권영각 ,  김원배 ,  김숙환

대한용접학회 특별강연 및 학술발표대회 개요집

1990 .01

다중 적층형 박막 실리콘 태양 전지의 터널 접합 특성 연구

황선태 ,  심현자 ,  정진원 외 2명

한국신·재생에너지학회 학술대회 초록집

2010 .06

초음파 접합 시스템에 따른 전자부품의 접합 특성

강창헌 ,  김기영

한국고분자학회 학술대회 연구논문 초록집

2011 .04

SIMS와 ARS 측정 결과에 따른 박막 접합 깊이 비교에 관한 연구 ( A Study on the estimate of shallow Junction Depth with SIMS and ASR measurement Results )

이병학 ,  홍신남

대한전자공학회 학술대회

1994 .11