Quantitative Measuring Ray Shift Aspect of Coma Aberration Utilizing Electrical Probe with Zero-Crossing Method

Shuji Nakao; Kouichirou Tsujita; Wataru Wakamiya

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자료유형: 학술대회자료

저자정보: Shuji Nakao Kouichirou Tsujita Wataru Wakamiya

저널정보: 대한전자공학회 International Conference on Electronics, Informations and Communications International Microprocesses and Nanotechnology Conference

발행연도: 1998.1

수록면: 336 - 337 (2page)

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