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이용수33
2023
Ⅰ. 서 론1.1. 연구 배경1.2. 연구 목적Ⅱ. 이론적 배경2.1. ALD 공정2.1.1. ALD 메커니즘2.1.2. ALD window2.1.3. Precursor and Reactant2.1.4. ALD 공정의 장점 및 단점2.2. Al2O3 박막의 특성 및 ALD 반응 매커니즘2.3. HfO2 박막의 특성 및 ALD 반응 매커니즘2.4. 저온 ALD 연구 동향2.5. 유전 강도2.5.1. 누설전류 및 항복전압 발생 메커니즘2.5.2. 전기적 신뢰성에 영향을 주는 요소2.5.3. 산소 결함의 발생 및 영향Ⅲ. 실험 방법3.1. ALD 박막 증착3.1.1. ALD 증착 및 장비3.1.2. Al2O3 시편 준비 및 분석3.1.3. HfO2 시편 준비 및 분석3.2. ALD로 증착된 박막의 특성 분석 방법3.2.1. 타원분광분석법 (Spectroscopic Ellipsometry)3.2.2. X-선 광전자 분광법 (XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)3.2.3. X-선 반사분석법 (XRR, X-ray Reflection)3.2.4. X-선 회절분석법 (XRD, X-ray Diffraction)3.2.5. 주사 탐침 현미경 (SPM, Scanning Probe Microscope)3.2.6. 투과 전자 현미경 (TEM, Transmission Electron Microscope)3.2.7. 전기적 특성 측정 방법Ⅳ. 실험 결과4.1. Spectroscopic ellipsometer로 확인한 ALD 증착 결과4.1.1. Al2O3 박막의 ALD 증착 거동 및 특성4.1.2. HfO2 박막의 ALD 증착 거동 및 특성4.2. 증착 온도에 따른 Al2O3 박막의 특성4.2.1. 물리적 특성과 광학적 특성 분석4.2.2. MIM 캐패시터 구조를 이용한 Al2O3 박막의 전기적 특성 분석4.2.3 X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) 분석 결과4.3. 산화제 조건에 따른 저온에서의 HfO2 박막의 특성4.3.1 MIS 캐패시터 구조를 이용한 HfO2 박막의 전기적 특성 분석4.3.2. 물리적 특성 분석4.3.3 X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) 분석 결과4.3.4. HfO2 박막 증착 시 ALD 공정의 반응 메커니즘Ⅴ. 결 론참 고 문 헌ABSTRACT
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