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논문 기본 정보

자료유형
학위논문
저자정보

김수연 (한밭대학교, 한밭대학교 대학원)

지도교수
김정환
발행연도
2023
저작권
한밭대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다.

이용수33

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이 논문의 연구 히스토리 (4)

초록· 키워드

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최근 플렉서블 전자 제품의 연구가 활발히 진행되면서 열에 약한 기판에도 적용가능한 저온 공정의 중요성이 대두되고 있다. 전자 소자의 박막을 제조하기 위한 다양한 증착 기술 중, 순차 자기 제한 반응을 기반으로 하는 ALD(Atomic Layer Deposition)는 원자 수준에서 두께와 조성을 정밀하게 제어하고 입체 구조물에서 균일한 박막을 증착하는 것이 가능한 공정 방법이다. 무엇보다 비교적 낮은 온도에서도 공정이 가능하다는 장점으로 인해 플렉서블 전자 제품에도 적용할 수 있다. 하지만 저온에서 진행되는 ALD 공정은 증착 속도가 느리며, 증착된 박막의 전기적 신뢰성이 부족하다는 문제점이 있다. 이러한 낮은 생산성은 ALD의 자기 제한적 표면 반응에 기반한 것이므로 피하기 어렵지만, 전자 소자에서 사용되는 박막의 절연 특성에 매우 중요한 특성인 유전강도에 대한 개선이 필요하다. 따라서 본 연구에서는 저온 ALD 공정으로 제작된 Al2O3 박막과 HfO2 박막의 특성을 분석하여 박막의 전기적 신뢰성을 저하시키는 요소를 연구하고, 이를 개선하여 유전강도를 향상시키기 위한 연구를 진행하였다. 첫 번째 연구에서는 ALD 증착 온도가 Al2O3 박막의 특성에 주는 영향을 분석하였다. 그 결과 Al2O3 박막의 증착률은 온도가 증가함에 따라 0.9 Å/cycle에서 1.1 Å/cycle로 증가했으며 완전한 산화 반응이 발생하는 임계 온도인 150 ℃ 이상의 증착 온도에서 포화되었다. 유전 강도도 증착 온도가 증가함에 따라 향상되었으며 150 ℃에서 성장한 박막은 XPS 분석으로 확인된 바와 같이 산소 결함의 감소로 인한 높은 항복 전계 강도(~8.3 MV/cm)를 나타냈다. 이러한 저온에서의 산소 결함으로 인한 낮은 유전강도를 개선하기 위해, 산화제 조건에 따른 ALD로 증착된 HfO2 박막의 특성을 분석하였다. ALD 증착 단계 중 산화제 단계를 추가적으로 실행했을 때 저온에서 증착된 HfO2 박막의 물리적, 전기적 특성이 향상되었다. 특히 박막 내의 산소 결함의 감소로 인해 저온에서도 개선된 전기적 특성을 보였다.

목차

Ⅰ. 서 론
1.1. 연구 배경
1.2. 연구 목적
Ⅱ. 이론적 배경
2.1. ALD 공정
2.1.1. ALD 메커니즘
2.1.2. ALD window
2.1.3. Precursor and Reactant
2.1.4. ALD 공정의 장점 및 단점
2.2. Al2O3 박막의 특성 및 ALD 반응 매커니즘
2.3. HfO2 박막의 특성 및 ALD 반응 매커니즘
2.4. 저온 ALD 연구 동향
2.5. 유전 강도
2.5.1. 누설전류 및 항복전압 발생 메커니즘
2.5.2. 전기적 신뢰성에 영향을 주는 요소
2.5.3. 산소 결함의 발생 및 영향
Ⅲ. 실험 방법
3.1. ALD 박막 증착
3.1.1. ALD 증착 및 장비
3.1.2. Al2O3 시편 준비 및 분석
3.1.3. HfO2 시편 준비 및 분석
3.2. ALD로 증착된 박막의 특성 분석 방법
3.2.1. 타원분광분석법 (Spectroscopic Ellipsometry)
3.2.2. X-선 광전자 분광법 (XPS, X-ray photoelectron spectroscopy)
3.2.3. X-선 반사분석법 (XRR, X-ray Reflection)
3.2.4. X-선 회절분석법 (XRD, X-ray Diffraction)
3.2.5. 주사 탐침 현미경 (SPM, Scanning Probe Microscope)
3.2.6. 투과 전자 현미경 (TEM, Transmission Electron Microscope)
3.2.7. 전기적 특성 측정 방법
Ⅳ. 실험 결과
4.1. Spectroscopic ellipsometer로 확인한 ALD 증착 결과
4.1.1. Al2O3 박막의 ALD 증착 거동 및 특성
4.1.2. HfO2 박막의 ALD 증착 거동 및 특성
4.2. 증착 온도에 따른 Al2O3 박막의 특성
4.2.1. 물리적 특성과 광학적 특성 분석
4.2.2. MIM 캐패시터 구조를 이용한 Al2O3 박막의 전기적 특성 분석
4.2.3 X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) 분석 결과
4.3. 산화제 조건에 따른 저온에서의 HfO2 박막의 특성
4.3.1 MIS 캐패시터 구조를 이용한 HfO2 박막의 전기적 특성 분석
4.3.2. 물리적 특성 분석
4.3.3 X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) 분석 결과
4.3.4. HfO2 박막 증착 시 ALD 공정의 반응 메커니즘
Ⅴ. 결 론
참 고 문 헌
ABSTRACT

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