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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학위논문
- 저자정보
- 지도교수
- 박태형
- 발행연도
- 2021
- 저작권
- 충북대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다.
이용수4
이 논문의 연구 히스토리 (3)
2021
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Compact Camera Modules are used in many small electronic devices such as mobile phones, tablet PCs and laptops. Various defects occur in the cover production process that protects the module''s circuitry. Defects are detected and classified to prevent leakage of defects and further occurrence of defects further. In this paper, the method of extracting patches to detect small defects in size is used, and only the patches where defects exist by quad tree decomposition are extracted to shorten the inspection time. For fast inspection speed, lightweight networks are applied to classification networks, and networks suitable for small camera module defect classification are identified through experiments. The accuracy of the classification is higher than when the entire image is entered, and the inspection time can be reduced compared to the patch-based method proposed previously.
목차
Ⅰ. 서 론 11.1 연구 배경 11.2 기존 결함 검출 방법 81.3 연구 목적 111.4 논문 구성 12Ⅱ. 시스템 구성 142.1 시스템 구성 142.2 시스템 흐름도 16Ⅲ. 모듈 영역 검출 알고리즘 183.1 템플릿 매칭을 이용한 영역 검출 183.2 비트연산을 이용한 배경 제거 19Ⅳ. 검사 패치 추출 알고리즘 214.1 그리드 방법 214.2 슬라이딩 윈도우 방법 224.3 쿼드 트리 분해 방법 23Ⅴ. 결함 분류 네트워크 275.1 합성 곱 신경망 275.2 결함 분류 네트워크 285.2.1 SqueezeNet 285.2.2 MobileNet-v2 295.2.3 ShuffleNet-v2 305.2.4 MnasNet 315.2.5 EfficientNet 325.3 분류 네트워크 학습 335.4 분류 네트워크 결과 출력 335.5 결함 위치/분류 출력 34Ⅵ. 실험 366.1 실험 환경 366.2 결함 분류 실험 결과 37Ⅶ. 결론 43참고문헌 또는 인용문헌 44감사의 글 49
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