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논문 기본 정보

자료유형
학위논문
저자정보

이헌경 (경북대학교, 경북대학교 대학원)

지도교수
김진규
발행연도
2017
저작권
경북대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다.

이용수5

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이 논문의 연구 히스토리 (3)

2017

교류 고전계에 의한 휴대용 단말기 오동작 특성 연구
이헌경 ,  윤웅희 ,  정재승 외 1명 조명·전기설비학회논문지 2017.04 학술저널
고전계에 의한 스마트폰 오동작 특성 연구
이헌경 전기공학과 2017.01 학위논문

2016

직류 고전압 방전에 의한 스마트폰 오동작 특성 연구
이헌경 ,  윤웅희 ,  정재승 외 2명 한국조명·전기설비학회 학술대회논문집 2016.11 학술대회자료

초록· 키워드

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Due to the advancement in technology, potable electronic devices can be use to acquire company secret. They has been lots of research about security technology using high frequency electromagnetic wave. Nonetheless there are has been concerns about the effect of electromagnetic wave on the human body. As a result it is difficult to apply such security related technologies in for portable electronic devices. In this paper we propose the use of DC high electric field and low frequency bandwidth instead of high-frequency electromagnetic wave to jam portable electronic device. Under the use of AC high electric field using Plate-to-Plate electrode, voice recording in the device ceased to function. On the other hand video recording malfunctioned under AC high electric field using rod-to-rod electrode and rod-to-plate electrode. The jamming phenomenon automatically adjust the focal length of the camera. This proves that low electromagnetic wave of low frequency can be used as a security scheme disable of jam the functionalities of portable electronic devices.
#전자기파 #고전계 #오동작 #고전압 #스마트폰

목차

목 차
목 차 i
그림 목차 ⅲ
표 목차 ⅴ
1. 서 론 1
1.1. 연구의 배경 및 필요성 1
2. 이론적 배경 3
2.1. 평판대평판 전극 (Plate-to-Plate type Electrode) 3
2.1.1. 로고스키 전극(Rogowski type Electrode) 4
2.2. 봉대평판 전극 (Rod-to-Plate type Electrode) 7
2.3. 봉대봉 전극 (Rod-to-Rod type Electrode) 9
2.4. 반도체 소자의 오동작 확률 및 파괴 확률 정의 11
2.5. 반도체 소자의 오동작 정의 13
3. 실험장치 및 방법 15
3.1. 전극의 구조와 스마트폰 시료의 종류 15
3.1.1. 전극의 구조 및 종류 15
3.1.2. 스마트폰 시료의 종류 및 규격 16
3.2. 고전계에 의한 스마트폰 오동작 특성 실험 17
4. 전기적 특성 및 전계 시뮬레이션 21
4.1. 직류 고전계의 전기적 특성 (DC) 21
4.1.1. 평판대평판 전극구조 21
4.1.2. 봉대평판 전극구조 (Positive Corona) 22
4.1.3. 봉대평판 전극구조 (Negative Corona) 24
4.1.4. 봉대봉 전극구조 26
4.2. 교류 고전계의 전기적 특성(AC) 28
4.2.1. 평판대평판 전극구조(AC) 28
4.2.2. 봉대평판 전극구조(AC) 30
4.2.3. 봉대봉 전극구조(AC) 37
4.3. 전계 시뮬레이션 44
4.3.1. 교류 전계 시뮬레이션 44
5. 스마트폰의 오동작 특성 49
5.1. 직류 고전계에서의 오동작 실험 (DC) 49
5.1.1. 갤럭시 S3의 오동작 실험 49
5.1.2. 갤럭시 S4 미니의 오동작 실험 51
5.1.3. 갤럭시 S5의 오동작 실험 53
5.1.4. 아이폰 5S의 오동작 실험 54
5.1.5 아이폰 6+의 오동작실험 56
5.2. 교류 고전계에서의 오동작 실험 (AC) 58
5.2.1. 갤럭시 노트2의 오동작 실험 58
5.2.2. 갤럭시 S4 미니의 오동작 실험 62
5.2.3. 갤럭시 S5의 오동작 실험 68
5.2.4. 아이폰 5S, 아이폰 6+의 오동작 실험 71
6. 결 론 72
참고문헌 74
Abstract 78

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