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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학위논문
- 저자정보
- 지도교수
- 박태형
- 발행연도
- 2015
- 저작권
- 충북대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다.
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이 논문의 연구 히스토리 (4)
2015
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This paper proposes a path planning algorithm to reduce the inspection time of AOI(automatic optical inspection) machines for SMT(surface mount technology) in-line system. Inspection windows of board should be clustered to several groups for Inspection path planning. In existing Inspection path planning methods, they did not consider inspection delay time. And they use different algorithm to solve clustering problem and visit order problem respectively.
We newly propose a genetic algorithm considering inspection delay time to solve clustering problem and visit order problem simultaneously. The experimental results are presented to verify the usefulness of the proposed method .
We newly propose a genetic algorithm considering inspection delay time to solve clustering problem and visit order problem simultaneously. The experimental results are presented to verify the usefulness of the proposed method .
목차
Ⅰ. 서 론 11.1 연구배경 11.2 SMT 검사기의 경로 계획 21.3 연구목적 41.4 논문구성 5Ⅱ. 경로 계획 문제 72.1 문제의 정의 72.2 문제의 구성 11Ⅲ. 경로 계획 알고리즘 153.1 기존 연구 153.1.1 기존 클러스터링 알고리즘 153.1.2 기존 TSP 알고리즘 203.2 통합적인 경로계획 알고리즘 233.2.1 염색체 구성 233.2.2 적합도 평가 253.2.3 교배 연산 263.2.4 돌연변이 연산 293.2.5 지역해 탐색 32Ⅳ. 실험 결과 334.1 실험환경 334.2 세 가지 유전알고리즘 적용 및 비교 344.2.1 검사시간 수렴 곡선 비교 344.2.2 클러스터링 결과 및 경로 비교 364.2.3 전체 데이터의 계산, 검사 시간 비교 37Ⅴ. 결 론 38참고문헌 또는 인용문헌 39
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