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이용수2
제 1 장 서 론 1제 2 장 이론적 배경 42-1. LED의 정의 42-2. LED 패키지 132-3. Via hole 형성 기술 192-4. 전해도금 공정의 원리 242-5. Cu via filling 방법 322-6. 열 저항의 개념 및 측정 방법 35제 3 장 실험방법 393-1. 공정변수에 따른 습식 식각 특성 분석 403-1-1. 습식 식각 특성 분석용 시편 제작 403-1-2. 식각 용액의 종류에 따른 Si 식각 특성 433-1-3. 식각 용액의 농도 변화에 따른 Si 식각 특성 443-1-4. 식각 용액의 온도 변화에 따른 Si 식각 특성 473-2. Via hole 시편 제작 483-2-1. 습식 식각을 이용한 via hole형성 공정 483-2-2. Deep RIE를 이용한 via hole 형성 513-3. Cu 전해도금을 이용한 via hole 내 Cu filling 공정 533-3-1. Via hole 내 절연층 및 전해도금 씨앗층 형성 533-3-2. Via filling용 용 Cu 전해도금액 제조 553-3-3. 다양한 전류인가방식에 따른 via filling 공정 593-3-4. Bottom up 방식을 이용한 Cu thermal via 기판 제작 623-4. 방열특성 측정을 위한 LED 패키지 제작 65제 4 장 결과 및 고찰 674-1. 공정변수에 따른 습식 식각 특성 및 형상 분석 674-1-1. 식각 용액의 종류에 따른 식각 형상 674-1-2. 식각 용액의 농도에 따른 식각 형상 704-1-3. 식각 용액의 온도에 따른 식각 형상 734-1-4. 식각 용액의 공정변수에 따른 식각 특성 분석 764-2. 공정방법에 따른 via hole 형상 분석 814-2-1. 습식 식각 공정을 이용한 via hole 형상 814-2-2. Deep RIE 공정을 이용한 via hole 형상 834-3. Cu via filling 형상 분석 844-3-1. 전해도금 용액의 조성에 따른 Cu via filling 형상 844-3-2. 전류인가방식에 따른 Cu via filling 형상 864-3-3. Bottom up 방식의 Cu via filling 형상 894-3-4. Cu thermal via이 형성된 패키지용 기판 제작 934-4. LED 패키지 방열특성 측정 974-4-1. 열 저항 측정 974-4-2. 광 출력특성 측정 105제 5 장 결 론 107참고 문헌 109Abstract 115
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