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저자정보
Ling-Yi Li (배재대학교) Sun-Young Bae (배재대학교) Yun-Hyeok Kim (배재대학교) Hoe-Kyung Jung (배재대학교)
저널정보
한국콘텐츠학회 한국콘텐츠학회논문지 한국콘텐츠학회논문지 제25권 제3호
발행연도
2025.3
수록면
40 - 49 (10page)
DOI
10.5392/JKCA.2025.25.03.040

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회로 기판(PCB)은 전자 부품의 기본 기판 역할을 하며 전자 산업에서 상당한 중요성을 가지고 있다. 더 가볍고 컴팩트한 전자 제품을 지향하는 추세에 따라 PCB 제조도 고밀도화 및 소형화로 나아가고 있으며, YOLO 모델을 기반으로 한 PCB 표면 결함 감지는 점점 더 어려운 연구 문제가 되고 있다. 인공 지능이 빠르게 발전함에 따라 자동 결함 감지를 위해 컨볼루션 신경망(CNN)을 활용하는 것은 PCB 표면 결함 감지를 위한 유망한 솔루션을 제공한다. 본 논문에서는 공유된 공개 데이터 세트에서 PCB 표면 결함 이미지를 훈련하고 테스트하기 위해 YOLOv8 및 YOLOv9 모델을 적용하여 이러한 모델의 PCB 표면 결함 감지 성능을 비교한다. 실험 결과에 따르면 공개 PCB 결함 데이터 세트에서 YOLOv9는 96.1%의 MAP50을 달성하여 YOLOv8과 같은 다른 주류 물체감지 알고리즘을 능가하는 것으로 나타났다. 26.2 GFLOP와 7.07×10⁶ 매개변수의 계산 부하를 입증하여 YOLOv9가 PCB 표면 결함 감지에 특히 유리해졌다.

목차

요약
Abstract
I. Introduction
II. YOLOv9 Model
III. Classes of PCB Surface Defects and Data
IV. Research Content and Algorithms
V. Experimental Results and Analysis
VI. Conclusions and Limitations
참고문헌

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