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이미라 (고려대학교) 이승우 (고려대학교) 김종현 (고려대학교) 박종환 (상명대학교)
저널정보
한국정보보호학회 정보보호학회논문지 정보보호학회논문지 제35권 제1호
발행연도
2025.2
수록면
11 - 24 (14page)

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NTRU+는 삼항식 환 격자 기반 양자 내성 PKE/KEM 기법이다. 다항식 환 격자 연구에서 효율적인 곱셈 연산을 위해 NTT(Number Theoretic Transform)을 적용하는 것이 주목받고 있다. NTRU+KEM은 NTT 적용이 가능한 삼항식 환을 기반으로 설계되었다. 이러한 삼항식 구조는 다양한 안전성 수준의 파라미터를 제공한다. NTRU+KEM의 모듈러스는 복호화 실패율에 영향을 미치는데, 삼항식 환의 구조상 이항식 환에 비해 복호화 실패율이 높으므로 모듈러스를 줄이기 어렵다. 따라서 NTRU+KEM을 이항식 환으로 변형하면 모듈러스의 감소를 기대할 수 있다. 한편, 기존 NTRU+KEM864는 192비트의 안전성을 목표로 설계되었으나 최신 분석에서 비트 안전성이 179로 측정되어 파라미터 셋의 개선 여지가 있다. 본 논문에서는 NTRU+KEM의 NTT 적용이 가능한 이항식 파라미터를 제안한다. 제안 파라미터는 기존의 NTRU+KEM864, NTRU+KEM1152 사이의 키 및 암호문 크기와 복호화 실패율을 유지하면서도, 보안성과 효율성을 향상시킨다. 특히, 제안 파라미터는 218비트 안전성을 달성하며, 키 생성 알고리즘에서 NTRU+KEM864보다 CPU 사이클을 4.3% 절감하여 성능을 개선한다.

목차

요약
ABSTRACT
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 배경 지식
Ⅲ. 제안 파라미터
Ⅳ. 제안 파라미터 구현
Ⅴ. 결론
References

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