UVM 기반 SPI 검증 IP의 재사용성에 대한 연구

문대원; 홍대기

doi:10.9717/kmms.2024.27.7.789

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자료유형: 학술저널

저자정보: 문대원 (상명대학교) 홍대기 (상명대학교)

저널정보: 한국멀티미디어학회 멀티미디어학회논문지 멀티미디어학회논문지 제27권 제7호

발행연도: 2024.7

수록면: 789 - 801 (13page)

DOI: 10.9717/kmms.2024.27.7.789

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This paper proposes an integrated UVM (Universal Verification Methodology)-based verification environment with scalability and reusability through Verilog-HDL (Hardware Description Language) design and UVM-based VIP (Verification IP) development for SPI (Serial Peripheral Interface) which is representative protocols of low-speed serial communication. The proposed verification environment enables reusable stimulus generation and random test using UVM, a class library implemented by System Verilog, and shows classes with various scalability with Built-in Base Class. In addition, Scoreboard and Functional Coverage were performed to show the reliability and efficiency of verification of each VIP"s functionality. The verification environment developed at each IP level shows reusability and scalability that can be used equally in an integrated UVM-based verification environment.

#UVM #VIP #Verification #SystemVerilog #SPI #Coverage #Reusability

참고문헌 (23)

참고문헌 신청

W. Ni and J. Zhang, “Research of Reusability Based on UVM Verification,” 2015 IEEE 11th International Conference on ASIC (ASICON), pp. 1-4, 2015.

K. Fathy and K. Salah, “An Efficient Scenario Based Testing Methodology Using UVM,” 2016 17th International Workshop on Microprocessor and SOC Test and Verification (MTV), pp. 57-60, 2016.

K. Salah, “A UVM-Based Smart Functional Verification Platform: Concepts, Pros, Cons, and Opportunities,” 2014 9th International Design and Test Symposium(IDT), pp. 94-99, 2014.

A. Jain, G. Bonanno, H. Gupta, and A. Goyal, “Generic System Verilog Universal Verification Methodology Based Reusable Verification Environment for Efficient Verification of Image Signal Processing IPs/SoCs,” International Journal of VLSI Design & Communication Systems(VLSICS), Vol. 3, No. 6, pp. 13-25, 2012.

N.B. Harshitha, P. Kumar, and M. Kurian, “An Introduction to Universal Verification Methodology for the Digital Design of Integrated Circuits (IC’s): A Review,” 2021 International Conference on Artificial Intelligence and Smart Systems (ICAIS), pp. 1710-1713, 2021.

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