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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
우종헌 (건국대학교) 김형중 (건국대학교)
저널정보
대한산업공학회 대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집 2024년 대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집 [3개 학회 공동주최]
발행연도
2024.5
수록면
4,038 - 4,041 (4page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

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전이학습은 대규모 데이터셋에 학습된 사전학습 모델을 이용하여 데이터가 부족한 문제에 대응하는 유용한 방법이다. 전이학습에서는 문제에 적합하며 우수한 성능을 제시하는 사전학습 모델과 학습 구성을 찾는 것이 중요하나, 일반적으로 전이학습에 사용되는 하이퍼파라미터는 개발자의 경험적 지식에 기반하여 선정된다. 따라서, 전이학습 모델 선정 뿐만 아니라 하이퍼파라미터 또한 최적화 할 수 있는 방안이 고민되어야 한다. 본 연구에서는 Fused Deposition Modeling (FDM) 프로세스에서의 불량 검출을 위한 심층 전이학습에 베이지안 최적화(Bayesian Optimization, BO)로 하이퍼파라미터를 조정(tuning)하는 방법을 제안한다. FDM 공정 불량 검출 모델은 이전 연구에서 구축된 ResNet50 기반의 모델을 사용하였다. 초기 조건과 BO를 통해 도출된 최적 조건에서의 성능을 비교한 결과, BO를 통해 보다 향상된 학습 성능(3% 향상)을 확인하고 전이학습 모델의 학습에 하이퍼파라미터 최적화의 필요성을 확인하였다. 제안된 방법은 전이학습 시 학습하이퍼파라미터에 대한 사전 지식이 부족하더라도 우수한 성능을 확보할 수 있는 최적 조건을 도출 할 수 있어 딥러닝의 산업적용에 유용한 방법으로 사용될 수 있다.

목차

Abstract
1. 서론
2. 이론적 배경
3. 연구 방법
4. 연구 결과
5. 결론
참고 문헌

참고문헌 (0)

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