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학술저널
저자정보
Ji-Sub Yoon (Kangwon National University) Doing-In Choi (Kangwon National University) Seungyoung Park (Kangwon National University) In-Chul Hwang (Kangwon National University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.24 No.2
발행연도
2024.4
수록면
69 - 75 (7page)
DOI
10.5573/JSTS.2024.24.2.69

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The performance optimization of a circuit in a short time is one of the important issues for IC testing. Traditional methods depend on domain knowledge and exhaustive search (ES) for feasible parameters. In this paper, we proposed the suboptimal control of the integrated phase noise (IPN) characteristics of RF phase lock loop (PLL) using a Bayesian optimization. For data acquisition, we designed an autonomous measurement platform based on general purpose interface bus (GPIB) and Python. Using our algorithm, we achieved performance within around 3 dB of the optimal at the 95th percentile and reduced the search time for optimal parameters by at least 98.75% compared to the ES method.

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. MEASUREMENT OPTIMIZATION
III. MEASUREMENTS
IV. CONCLUSION
REFERENCES

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