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논문 기본 정보

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저자정보
정기현 (서울과학기술대학교) 장영진 (서울과학기술대학교 NID융합기술대학원) 정창원 (서울과학기술대학교) 김성권 (서울과학기술대학교)
저널정보
한국전자통신학회 한국전자통신학회 논문지 한국전자통신학회 논문지 제9권 제7호
발행연도
2014.8
수록면
753 - 759 (7page)

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본 논문에서는 전원무결성(Power Source Integrity) 해석을 기반으로 PCB(Printed Circuit Board)내부 전원선로의 RLC 공진(Resonance)현상을 해석하고 PCB내부 공진현상 감쇄를 위한 설계기법을 제시한다. 제시하는기법은 PCB의 구조적 특성으로 형성되는 공진주파수를 예측하며, 공진현상 감쇄를 위한 디커플링 캐패시터의적용위치 및 용량을 결정할 수 있다. 본 논문에서는 산업용 제어기 내부의 메인보드 회로 시뮬레이션 모델을통해서 PCB 공진현상 감쇄 설계기법에 대한 타당성을 검증하였다. 본 연구결과는 향후, PCB 회로 설계에서PDN(Power Delivery Network)구조의 안정도 향상에 기여할 것으로 기대된다.

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