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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
문인선 (한밭대학교) 이동형 (한밭대학교)
저널정보
한국산업경영시스템학회 산업경영시스템학회지 한국산업경영시스템학회지 제44권 제4호
발행연도
2021.12
수록면
128 - 135 (8page)

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WDM(Wavelength Division Multiplexing) is called a wavelength division multiplexing optical transmission method and is a next-generation optical transmission technology. Case company F has recently developed and sold PLC(Planar Lightwave Circuit), a key element necessary for WDM system production. Although Chinese processing companies are being used as a global outsourcing strategy to increase price competitiveness by lowering manufacturing unit prices, the average defect rate of products manufactured by Chinese processing companies is more than 50%, causing many problems. However, Chinese processing companies are trying to avoid responsibility, saying that the cause of the defect is the defective PLC Wafer provided by Company F. Therefore, in this study, the responsibility of the PLC defect is clearly identified through estimating the defect rate of PLC using the sampling inspection method, and the improvement plan for each cause of the PLC defect for PLC yeild improvement is proposed. The result of this research will greatly contribute to eliminating the controversy over providing the cause of defects between global outsourcing companies and the head office. In addition, it is expected to form a partnership with Company F and a Chinese processing company, which will serve as a cornerstone for successful global outsourcing. In the future, it is necessary to increase the reliability of the PLC yield calculation by extracting more precisely the number of defects.
#WDM(Wavelength Division Multiplexing) #Sampling Inspection #PLC(Planar Lightwave Circuit) #Defective Wafer #Global Outsourcing Strategy

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참고문헌 (15)

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Cho, J. R. / 2000 / Study on the failure rate sampling plan considering cost / Journal of Society of Industrial and Systems Engineering 23(59):97~103 google schola 최성운 / 2006 / 품질 및 신뢰성 샘플링 검사의 활용 / 대한안전경영과학회지 8(5):243 dbpia Choi, S. W. / 2011 / Practical limitations of theoretical acceptance sampling / Proceedings of Korea Safety Management & Science Conference :205~211 google schola Cha, J. W. / 2010 / Evaluation of Wafer Polishing Pad Capacity and Lifetime for Machining Reliability Elevation google schola Disco google schola

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