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최인혁 (한국전력공사) 김태균 (한국전력연구원) 윤용범 (한국전력공사) 이준신 (성균관대학교) 김성욱 (한양대학교)
저널정보
한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제30권 제9호
발행연도
2017.9
수록면
551 - 557 (7page)
DOI
https://doi.org/10.4313/JKEM.2017.30.9.551

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자기애자 장치에 대한 수명을 예측하는 방법론에 대한 연구는 매우 중요하다. 생존시간의 분포나 형태의 관해서 상당한 연구가 진행되어 왔다. 대부분의 기존연구는 자기애자의 수명에 관하여 와이블분포를 가정하여 진행하였다. 하지만 실제 분포는 알 수가 없기 때문에 이러한 가정이 잘못된 분석결과를 초래할 수 있다. 본 연구에서는 신뢰성과 생존분석에서 자주 이용되는 지수분포, 와이블분포, 대수정규분포, 감마분포 등의 모형들의 위험함수의 특색을 살펴보았다. 모형선택과 모수추정 절차에 있어 베이지안 기법을 적용하였다. 특별히, 베이즈요인을 이용하여 모형선택을 실시하는데, 사후확률이 가장 큰 모형이 선택되면 사후평균을 이용하여 각 모수를 추정하였다. 본 논문에서 제안한 방법론을 논증하기 위하여 여러 형태의 모의실험을 실시하였다.

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