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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Minh Hoang Nguyen (Chung-Ang University) Sangshin Kwak (Chung-Ang University)
저널정보
대한전기학회 전기학회논문지 전기학회논문지 제71권 제12호
발행연도
2022.12
수록면
1,770 - 1,779 (10page)
DOI
10.5370/KIEE.2022.71.12.1770

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Industrial, electronics goods, and transportation sectors employ power converters for a variety of power conversion applications. Among various reliability challenges in a power converter, capacitor and semiconductor switching devices degradation, caused by aging, are the most notable. The long-term device degradations in capacitors and semiconductor devices may exert negtive impacts on the output performance of power converters. In this study, the impact of an aging capacitor and aging semiconductor switch on a modular multilevel converter (MMC) is presented in detail. Various performances of MMC are measured and quantified through simulation to evaluate the effect of aging devices on converter performance.

목차

Abstract
1. Introduction
2. Modular multilevel converter
3. Investigation of aging devices impact result
4. Conclusion
References

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