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저자정보
박정근 (서울대학교) 문수묵 (서울대학교)
저널정보
Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 2021 한국소프트웨어종합학술대회 논문집
발행연도
2021.12
수록면
1,131 - 1,133 (3page)

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다양한 제조사의 ATE(Automatic Test equipment)를 사용해 서로 다른 특성을 가진 다양한 모델의 메모리를 테스트해야 하는 양산 환경에서 테스트 패턴 프로그램의 호환성 지원은 중요하다. 본 논문에서는 주어진 테스트 패턴 프로그램을 이종 메모리 모델 테스트에 사용할 수 있도록 변환하는 방법으로 그래프 표현형을 이용한 테스트 패턴 프로그램 스케쥴링을 제안한다. 우리의 접근방법은 테스트 패턴 프로그램의 시맨틱 요소를 추출해 그래프 ... 전체 초록 보기

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