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자료유형
학술저널
저자정보
Joon Hong Park (부산대학교) Sang Chul Lee (Samsung Corning Co. Ltd.) 송풍근 (부산대학교)
저널정보
대한금속·재료학회 Metals and Materials International Metals and Materials International Vol.13 No.6
발행연도
2007.1
수록면
475 - 478 (4page)

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Characterizations were performed for ITO films deposited using different erosion ratios for the target surface and different conductivity targets. The ITO films were deposited on unheated substrates using de magnetron sputtering with different conductive targets, and then the films were post-annealed in a H2 atmosphere in a vacuum chamber. By increasing the target erosion ratio, the optimal O2 addition ratio to obtain the lowest resistivity was decreased. For the post-annealed films, the resistivity of the ITO films consistently deceased with an increasing Ta, which can be attributed to the increase of the carrier density. By increasing the target erosion ratio, the XRD patterns of the post-annealed ITO films showed a higher peak intensity on the (222) plane than that on the (400) plane, implying that the oxidation of the ITO films was enhanced.

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