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본 연구는 ｢청년패널 2001｣의 1차 ~6차 조사를 이용하여 하향 취업 경험이 이후의 비하향 취업으로의 이행에 미치는 효과를 분석한다. 분석모형으로는 패널자료의 장점을 살려 개인의 이질성을 통제하는 확률효과 프로빗 모형(random effect probit model)을 이용한다. 하향취업을 (1) 평균 교육년수 기준, (2) 최빈도 기준, (3) 주관적 응답 기준 등 다양한 방법으로 측정한 후 하향취업의 효과가 상이한 측정 기준 간에 일관되게 관찰되는지 여부를 검증하였다. 주요 실증분석 결과는 다음과 같다. 첫째, 청년층의 하향 취업 규모는 측정 기준에 따라 큰 차이가 있었다. 둘째, 확률효과 프로빗 모형의 분석 결과 모든 측정 기준에서 하향 취업 경험은 향후 비하향 일자리에 취업할 확률에 통계적으로 높은 유의수준에서 부정적인 효과를 미치는 것으로 나타났다. 셋째, 본 연구는 하향취업의 부정적 효과의 민감도를 분석하기 위하여 여러 모형을 설정하여 분석하였으나 하향취업의 부정적 효과는 모형들 간에 대체로 안정적이었다.
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