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이주호 (한국전자기술연구원) 한송희 (한국전자기술연구원) 최성순 (한국전자기술연구원) 박지수 (한국과학기술원) 육종민 (한국과학기술원)
저널정보
한국신뢰성학회 한국신뢰성학회 학술대회논문집 한국신뢰성학회 2021 추계학술대회 [초록집]
발행연도
2021.11
수록면
16 - 16 (1page)

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전자현미경의 일종인 투과전자현미경(TEM, Transmission Electron Microscope)은 원자 단위의 구조까지 직접 관찰할 수 있으며 극미세 소재개발, 융복합물질의 구조분석 등 다양한 분야의 나노분석에 활용되는 현미경이다. 투과전자현미경은 시료에 대해 조사된 전자빔의 투과 결 ... 전체 초록 보기

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