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저자정보
M. S. Kim (경북대학교) S. H. Yoo (경북대학교) M. K. Kwak (경북대학교)
저널정보
Korean Society for Precision Engineering 한국정밀공학회 학술발표대회 논문집 한국정밀공학회 2021년도 춘계학술대회 논문집
발행연도
2021.5
수록면
458 - 458 (1page)

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In the photolithography process for micro/nano-scale fabrication, one of the most common causes of defects is the collapse of the structure due to the capillary force of the developer solution. If this phenomenon, often referred to as capillary force-induced clustering (CFIC), is utilized properly, uniformly clustered patterns that are difficult to fabricate with conventional lithographic methods can be prepared easily. For this, it is necessary to design an appropriate structure considering various factors such as structural stability, elastic resilience, and capillary interaction force of the soluti ... 전체 초록 보기

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