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마병진 (한국전자기술연구원) 정태희 (한국전자기술연구원) 최성순 (한국전자기술연구원) 김제민 (한국전자기술연구원) 김철희 (한국전자기술연구원) 이주호 (한국전자기술연구원) 황순미 (한국전자기술연구원) 이관훈 (한국전자기술연구원)
저널정보
한국신뢰성학회 한국신뢰성학회 학술대회논문집 한국신뢰성학회 2021 춘계학술대회 [초록집]
발행연도
2021.6
수록면
137 - 137 (1page)

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85/85 시험과 같은 기존의 신뢰성시험은 챔버 내의 특정온도에서 시험이 수행된다. 그러나 LED, 전력반도체와 같은 발열이 큰 시료의 경우에는 패키지의 구성 방식, 바람의 세기, 시료 세팅 방향 등에 따라 같은 챔버 온도에서도 반도체의 정션 온도가 크게 달라지고 이에 따라 추정 수명과 같은 시험의 결과도 변한다.
이러한 문제를 극복하기 위해 LM-80, AEC ... 전체 초록 보기

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