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논문 기본 정보

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저자정보
선용근 (데베트론코리아) 신현진 (데베트론코리아) 최의성 (데베트론코리아) 신우균 (한국에너지기술연구원) 고석환 (한국에너지기술연구원)
저널정보
한국태양에너지학회 한국태양에너지학회 논문집 한국태양에너지학회 논문집 제40권 제6호
발행연도
2020.12
수록면
105 - 111 (7page)

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In Korea, the annual installed PV capacity has increased over the years. However, the supply of photovoltaic panel fault diagnosis techniques for efficient management is stil insufficient. Thus, many research groups and companies have been developing photovoltaic panel fault diagnostic equipment to measure I-V characteristics (1500 V<SUB>Max.</SUB> and 50 A<SUB>Max.</SUB>) and calculate the power efficiency of photovoltaic panels to quickly detect faults. In these methods, the capacitor load is used to measure the I-V curve of the photovoltaic panel. In addition, a MOSFET is used for stable I-V measurement and Multiplexing, and a high sampling ADC is used for simultaneous and quick (6 s) multi-channel measurements.

목차

Abstract
1. 서론
2. 태양광 I-V 측정 방법
3. 다채널 측정 방법 연구
4. 태양광 I-V 측정을 위한 스위칭 소자 특성 연구
5. 결론
REFERENCES

참고문헌 (7)

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